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    初期试验证明，第一批温度计在800℃是稳定的，并具有令人满意的温度系数和插入深度特性。把温度计的电阻敏感元件在中点处断开测量其漏电情况，结果表明绝缘件的电阻相当大，可以在金点使用。这就促使我们在1100℃对这些温度计进行试验。
    有好几支温度计在1100℃进行的试验表明，长期稳定性可与800℃时的性能相比。由此可见，采用这种结构形式，的确能够做出在1100℃保持稳定的温度计。但是，这些试验也暴露出沮度计在经受这样的高温时有几方面的不足。许多温度计的电参数出现恶化，这种情况看来象是电阻元件的铂丝受到了污染，或者是物理性能发生了变化。有些电阻元件的铂丝发生了比较厉害的形变而从支撑十字骨架的齿口脱出。于是，我们就尝试修改电阻元件的设计和制作工序。经常发生这样的情况:膨胀和收缩，造成相当厉害的变形，以至引线绝缘管和圆形隔片的交接处短路。这种缺点促使我们研制一种引线绝缘结构，温度计的头部能根据引线的热膨胀进行调整，另外还安装了有效的电防护。采用了电防护措施，就暴诈出未加防护的温度计漏电很厉害。而这种诵电原来是检测不出的。

    尽管这种采用防护措施的温度计仍有不足之处，但它们在许多方面是耐用的，而且在高温范围的温度数值符合得较好。例如，如果温度计按电阻比R(t)/R(0)和温度成简单的二次关系式进行分度，即在水三相点、锡点和锌点进行测量，然后外推至金点温度，则所有被试温度计的外推值都落在35mK左右的范围内。
    下面我们将介绍有关2.50温度计加热到1100℃的一些情况。首先谈试验装置和试验程序(这些试验装置和试验程序是为了确定温度计的一些重要特性而建立的)，然后介绍温度计的设计和结构的主要特点，后，根据其测试结果对温度计的特性进行评定。